ICS: 31.080.01 - Polprevodniški elementi (naprave) na splošno

Če kupite standardizacijski dokument v .pdf formatu prek spletne prodaje, vam nudimo 10% popust pri spodnji ceni brez DDV. Cenik SIST
Razvrsti rezultate po: Primernost | Referenčna oznaka | TC | ICS | Datum | Stopnja

Prikaži vrstice:

Zadetki 1 - 25 od 185
1 2 3 4 5 6 7 8  Naprej Zadnja stran 


Referenčna oznaka SIST Jezik Cena Dodaj v košarico
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62374:2007
angleško: Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
slovensko: Polprevodniški elementi - Preskus dielektrične plasti vrat s časovno odvisnim dielektričnim prebojem (TDDB) (IEC 62374:2007)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jan-2008
angleški jezik SIST-F: 65.34 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62415:2010
angleško: Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010)
slovensko: Polprevodniški elementi - Preskušanje elektromigracije s konstantnim tokom (IEC 62415:2010)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2010
angleški jezik SIST-D: 53.24 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62417:2010
angleško: Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
slovensko: Polprevodniški elementi - Preskusi z mobilnimi ioni tranzistorjev s kovinskim oksidom na poljski efekt (MOSFET) (IEC 62417:2010)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2010
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62418:2010
angleško: Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010)
slovensko: Polprevodniški elementi - Preskus brez upoštevanja obremenitve metalizacije (IEC 62418:2010)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2010
angleški jezik SIST-E: 58.08 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 153000:1998
angleško: Generic specification: Discrete pressure contact power semiconductor devices (Qualification approval)
slovensko: Generic specification: Discrete pressure contact power semiconductor devices (Qualification approval)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-I: 85.91 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60191-1:2007
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
slovensko: Mehanska standardizacija polprevodniških elementov - 1. del: Splošna pravila za pripravo tehničnih risb diskretnih elementov (IEC 60191-1:2007)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 01.100.25 31.240 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jan-2008
Razveljavitev: 01-mar-2021
angleški jezik SIST-I: 85.91 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN IEC 60191-1:2018
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices (IEC 60191-1:2018)
slovensko: Standardizacija mehanskih lastnosti polprevodniških elementov - 1. del: Splošna pravila za pripravo tehničnih risb diskretnih elementov (IEC 60191-1:2018)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.240 01.100.25 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jun-2018
angleški jezik SIST-H: 78.65 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60191-3:1999
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits
slovensko: Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 3: General rules for the preparation of outline drawings of integrated circuits (IEC 60191-3:1999)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 01.100.25 31.240 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-J: 96.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60191-4:1999
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
slovensko: Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device package (IEC 60191-4:1999)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.080.01 31.240
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-F: 65.34 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60191-4:2014
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages
slovensko: Standardizacija mehanskih lastnosti polprevodniških elementov - 4. del: Kodirni sistem in klasifikacija oblik okrovov polprevodniških elementov (IEC 60191-4:2013)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.240 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-maj-2014
angleški jezik SIST-F: 65.34 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60191-6:2009
angleško: Mechanical standardization of semiconductor devices -- Part 6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages (IEC 60191-6:2009)
slovensko: Standardizacija mehanskih lastnosti polprevodniških elementov - 6. del: Splošna pravila za pripravo tehničnih risb okrovov površinsko nameščenih polprevodniških elementov (IEC 60191-6:2009)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.240 31.080.01 01.100.25
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-mar-2010
angleški jezik SIST-I: 85.91 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-1:2003
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-2:2002
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-3:2002
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
Razveljavitev: 01-jul-2020
angleški jezik SIST-B: 38.72 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-3:2017
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017)
slovensko: Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 3. del: Zunanji vizualni pregled (IEC 60749-3:2017)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2017
angleški jezik SIST-D: 53.24 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-4:2002
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749- 4:2002)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
Razveljavitev: 01-jul-2020
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-4:2017
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2017)
slovensko: Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 4. del: Preskušanje z vlažno vročino, v ustaljenem stanju in z močno pospešenim obremenjevanjem (HAST) (IEC 60749-4:2017)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2017
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-5:2003
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
Razveljavitev: 01-jun-2020
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-5:2017
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017)
slovensko: Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 5. del: Preskus življenjske dobe v dinamičnem ravnotežju vlažnosti in pri ustaljeni temperaturi (IEC 60749-5:2017)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2017
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-6:2002
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
Razveljavitev: 01-sep-2020
angleški jezik SIST-B: 38.72 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-6:2017
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017)
slovensko: Polprevodniški elementii - Mehanske in klimatske preskusne metode - 6. del: Shranjevanje pri visoki temperaturi (IEC 60749-6:2017)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2017
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-7:2011
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
slovensko: Polprevodniški elementi - Metode za mehansko in klimatsko preskušanje - 7. del: Merjenje količine notranje vlage in analiza drugih preostalih plinov
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-dec-2011
angleški jezik SIST-D: 53.24 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-8:2003
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + corrigendum 2003)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-F: 65.34 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-9:2002
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking
slovensko: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
Razveljavitev: 01-jul-2020
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60749-9:2017
angleško: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017)
slovensko: Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 9. del: Trajnost označevanja (IEC 60749-9:2017)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.080.01
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2017
angleški jezik SIST-C: 45.98 EUR
PDF
Papir
1 2 3 4 5 6 7 8  Naprej Zadnja stran 




• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AC so popravki standardov in so v večini primerov brezplačni.
• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AP so privzeti tuji standardi, katerih sestavni del je izvirni standard, ki ga moramo pridobiti pri izdajatelju v tujini. Naročilo pošljite na: prodaja@sist.si.

Najbolje prodajani standardi