ICS: 31.140 - Piezoelektrične naprave

Če kupite standardizacijski dokument v .pdf formatu prek spletne prodaje, vam nudimo 20% popust pri spodnji ceni brez DDV. Cenik SIST
Razvrsti rezultate po: Primernost | Referenčna oznaka | TC | ICS | Datum | Stopnja

Prikaži vrstice:

Zadetki 1 - 25 od 96
1 2 3 4  Naprej Zadnja stran 


Referenčna oznaka SIST Jezik Cena Dodaj v košarico
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60689:2009
angleško: Measurement and test methods for tuning fork quartz crystal units in the range from 10 kHz to 200 kHz and standard values (IEC 60689:2008)
slovensko: Merilne in preskusne metode za kristalne uglaševalne vilice v območju od 10 kHz do 200 kHz in standardne vrednosti (IEC 60689:2008)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-maj-2009
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60758:2016
angleško: Synthetic Quartz Crystal - Specifications and guidelines for use (IEC 60758:2016)
slovensko: Sintetični kremenčev kristal - Specifikacije in smernice za uporabo (IEC 60758:2016)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-nov-2016
angleški jezik SIST-K: 92.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 61240:2012
angleško: Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted device (SMD) for frequency control and selection - General rules
slovensko: Piezoelektrični elementi - Priprava tehničnih risb površinsko montiranega elementa (SMD) za frekvenčno regulacijo in filtriranje - Splošna pravila
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-dec-2012
Razveljavitev: 01-feb-2020
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 61240:2017
angleško: Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules (IEC 61240:2016)
slovensko: Piezoelektrični elementi - Priprava tehničnih risb površinsko montiranega elementa (SMD) za frekvenčno regulacijo in filtriranje - Splošna pravila (IEC 61240:2016)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-apr-2017
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62276:2013
angleško: Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices applications - Specifications and measuring method
slovensko: Enokristalne rezine za površinske zvočnovalovne naprave (SAW) - Specifikacija in merilna metoda
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-mar-2013
Razveljavitev: 01-feb-2020
angleški jezik SIST-I: 78.10 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 62276:2016
angleško: Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 62276:2016)
slovensko: Enokristalne rezine za površinske zvočnovalovne naprave (SAW) - Specifikacije in merilne metode (IEC 62276:2016)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-feb-2017
angleški jezik SIST-I: 78.10 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 168201:1992
angleško: Blank Detail Specification: Quartz crystal units (Qualification approval)
slovensko: Blank detail specification: Quartz crystal units (Qualification approval)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-C: 41.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 170100:2001
angleško: Sectional Specification: Waveguide type dielectric resonators
slovensko: Sectional specification: Waveguide type dielectric resonators
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 170101:2001
angleško: Blank detail Specification: Waveguide type dielectric resonators - Capability approval
slovensko: Blank detail specification: Waveguide type dielectric resonators - Capability approval
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-B: 35.20 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 50324-1:2002
angleško: Piezoelectric properties of ceramic materials and components -- Part 1: Terms and definitions
slovensko: Piezoelectric properties of ceramic materials and components - Part 1: Terms and definitions
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 01.040.31 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-D: 48.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 50324-2:2002
angleško: Piezoelectric properties of ceramic materials and components -- Part 2: Methods of measurement - Low power
slovensko: Piezoelectric properties of ceramic materials and components - Part 2: Methods of measurement - Low power
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 50324-3:2002
angleško: Piezoelectric properties of ceramic materials and components -- Part 3: Methods of measurement - High power
slovensko: Piezoelectric properties of ceramic materials and components - Part 3: Methods of measurement - High power
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60122-1:2002
angleško: Quartz crystal units of assessed quality -- Part 1: Generic specification
slovensko: Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 60122-1:2002)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jul-2004
angleški jezik SIST-I: 78.10 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60122-3:2010
angleško: Quartz crystal units of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections (IEC 60122-3:2010)
slovensko: Kristalne enote določene kakovosti - 3. del: Standardni okrovi in priključki (IEC 60122-3:2010)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-feb-2011
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN IEC 60122-4:2019
angleško: Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019)
slovensko: Kristalne enote določene kakovosti - 4. del: Kristalne enote s termistorji (IEC 60122-4:2019)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-maj-2019
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60368-1:2000
angleško: Piezoelectric filters of assessed quality -- Part 1: Generic specification
slovensko: Piezoelectric filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 60368-1:2000)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.160 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-H: 71.50 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60368-3:2010
angleško: Piezoelectric filters of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections (IEC 60368-3:2010)
slovensko: Piezoelektrični filtri določene kakovosti - 3. del: Standardni okrovi in priključki (IEC 60368-3:2010)
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-feb-2011
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60368-4:2000
angleško: Piezoelectric filters of assessed quality -- Part 4: Sectional specification - Capability approval
slovensko: Piezoelectric filters of assessed quality - Part 4: Sectional specification - Capability approval (IEC 60368-4:2000)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.160 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-G: 66.00 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-1:1997
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
slovensko: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in pi-network (IEC 60444-1:1986)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-2:1997
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
slovensko: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-D: 48.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-3:1997
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C0
slovensko: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C< (Index)o> (IEC 60444-3:1986)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-4:1997
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
slovensko: Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal unit (IEC 60444-4:1988)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-E: 52.80 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-5:1997
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction
slovensko: Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-sep-2002
angleški jezik SIST-J: 88.00 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-6:2013
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
slovensko: Meritve parametrov kvarčno-kristalnih enot - 6. del: Merjenje odvisnosti od ravni napajanja
TC: I11 - Imaginarni 11 ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-jan-2014
angleški jezik SIST-F: 59.40 EUR
PDF
Papir
Organizacija: SIST
Tuja referenčna oznaka: EN 60444-7:2004
angleško: Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
slovensko: Merjenje parametrov enot iz kremenovega kristala – 7. del: Merjenje aktivnosti in frekvenčnih gibov (frekvenčno odvisni mehanski nihaji) enot iz kremenovega kristala (IEC 60444-7:2004)
TC: SS EIT - Strokovni svet SIST za področja elektrotehnike, informacijske tehnologije in telekomunikacij ICS: 31.140
Stopnja: 6060 Status: Objavljen
Objavljen: 01-mar-2005
angleški jezik SIST-C: 41.80 EUR
PDF
Papir
1 2 3 4  Naprej Zadnja stran 




• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AC so popravki standardov in so v večini primerov brezplačni.
• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AP so privzeti tuji standardi, katerih sestavni del je izvirni standard, ki ga moramo pridobiti pri izdajatelju v tujini. Naročilo pošljite na: prodaja@sist.si.

Najbolje prodajani standardi