SIST EN 60444-3:2002
(Main)Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C0
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -- Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C0
Specifies a method based on the -network for the measurement of the parameters of quartz crystal units using an inductance to compensate for the effects of Co at the frequency of the crystal unit. Two possible circuits for compensation of Co are discussed in detail. Has the status of a technical report.
Messung von Schwingquarz-Parametern nach dem Null-Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk -- Teil 3: Verfahren zur Messung der Zwei-Pol-Parameter von Schwingquarzen bis 200 MHz nach dem Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation der Parallelkapazität C0
Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi -- Partie 3: Méthode fondamentale pour la mesure des paramètres à deux pôles des résonateurs à quartz à la fréquence jusqu'à 200 MHz par la technique de phase dans le circuit en pi avec compensation de la capacité parallèle C0
Définit une méthode fondée sur le circuit en pi pour la mesure des paramètres des résonateurs à quartz à l'aide d'une inductance pour compenser les effets de C0 à la fréquence du résonateur à quartz. Deux circuits possibles pour la compensation de C0 sont exposés en détail. Cette publication a le statut d'un rapport.
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C< (Index)o> (IEC 60444-3:1986)
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Standards Content (Sample)
SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 60444-3:2002
01-september-2002
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-
network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of
quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with
compensation of the parallel capacitance C< (Index)o> (IEC 60444-3:1986)
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network -
- Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal
units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the
parallel capacitance C0
Messung von Schwingquarz-Parametern nach dem Null-Phasenverfahren in einem Pi-
Netzwerk -- Teil 3: Verfahren zur Messung der Zwei-Pol-Parameter von Schwingquarzen
bis 200 MHz nach dem Phasenverfahren in einem Pi-Netzwerk mit Kompensation der
Parallelkapazität C0
Mesure des paramètres des quartz piézoélectriques par la technique de phase nulle
dans le circuit en pi -- Partie 3: Méthode fondamentale pour la mesure des paramètres à
deux pôles des résonateurs à quartz à la fréquence jusqu'à 200 MHz par la technique de
phase dans le circuit en pi avec compensation de la capacité parallèle C0
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 60444-3:1997
ICS:
31.140 3LH]RHOHNWULþQHLQ Piezoelectric and dielectric
GLHOHNWULþQHQDSUDYH devices
SIST EN 60444-3:2002 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.
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