SIST ISO/TS 13762:2002

Oznaka standarda: SIST ISO/TS 13762:2002
Koda projekta: 022376
Organizacija: SIST
Naslov (angleški): Particle size analysis -- Small angle X-ray scattering method
Naslov (slovenski): Sejalna analiza - Metoda disperzije rentgenskih žarkov pod ostrim kotom
Če kupite standardizacijski dokument v .pdf formatu prek spletne prodaje, vam nudimo 10% popust pri spodnji ceni brez DDV. Cenik SIST
Dokumenti
Ime Jezik Status Cena Dodaj v košarico
SIST ISO/TS 13762:2002 angleški jezik Withdrawn SIST-F: 65.34 EUR
PDF
Papir
Tehnični odbor: I12 - Imaginarni 12 Imaginarni TC za ISO področje - vzdrževani privzeti ISO standardi
ICS: 19.120
Status: Razveljavljen
Objavljen: 01-jun-2002
Refer. št. objave: Sporocila 2002-06-01
Razveljavitev: 01-feb-2013
Referenca razveljavitve: Sporocila 2013-02
Referenčna oznaka: ISO/TS 13762:2001

Najbolje prodajani standardi