SIST ISO 12179:2002

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 12179
First edition
2000-03-15
Geometrical Product Specifications
(GPS) — Surface texture: Profile method —
Calibration of contact (stylus) instruments
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode
du profil — Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Reference number
ISO 12179:2000(E)
©
ISO 2000

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ISO 12179:2000(E)
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ISO 12179:2000(E)
Contents Page
Foreword.iv
Introduction.v
1 Scope .1
2 Normative references .1
3 Terms and definitions .2
4 Conditions of use.2
5 Measurement standards .3
6 Contact (stylus) instrument metrological characteristics.3
7 Calibration .6
8 Uncertainty of measurement .8
9 Contact (stylus) instrument calibration certificate.9
Annex A (normative) Calibration of instruments measuring the motifs method parameters.10
Annex B (normative) Calibration of simplified operator instruments for the measurements of surface
texture .12
Annex C (informative) Example: roughness measurement standard parameter Ra .13
Annex D (informative) Relation to the GPS matrix model.16
Bibliography.17
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ISO 12179:2000(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO
member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical
committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has
the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in
liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical
Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 3.
Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting.
Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard ISO 12179 was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and
geometrical product specifications and verification.
Annexes A and B form a normative part of this International Standard. Annexes C and D are for information only.
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ISO 12179:2000(E)
Introduction
This International Standard is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a
general GPS standard (see ISO/TR 14638). It influences the chain link 6 of the chain of standards on roughness,
waviness and primary profile.
For more detailed information on the relationship of this standard to the GPS matrix model, see annex D.
This International Standard introduces calibration of contact (stylus) instruments as defined in ISO 3274. The
calibration is to be carried out with the aid of measurement standards.
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INTERNATIONAL STANDARD ISO 12179:2000(E)
Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture:
Profile method — Calibration of contact (stylus) instruments
1 Scope
This International Standard applies to the calibration of the metrological characteristics of contact (stylus)
instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration is
to be carried out with the aid of measurement standards.
Annex B applies to the calibration of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments
which do not conform with ISO 3274.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of
this International Standard. For dated references, subsequent amendments to, or revisions of, any of these
publications do not apply. However, parties to agreements based on this International Standard are encouraged to
investigate the possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. For
undated references, the latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and IEC
maintain registers of currently valid International Standards.
ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal
characteristics of contact (stylus) instruments.
ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions
and surface texture parameters.
ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement
standards — Part 1: Material measures.
ISO 10012-1:1992, Quality assurance requirements for measuring equipment — Part 1: Metrological confirmation
system for measuring equipment.
ISO 12085:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Motif
parameters.
ISO 14253-1:1998, Geometrical Product Specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and
measuring equipment — Part 1: Decision rules for proving conformance or non-conformance with specification.
ISO/TS 14253-2:1999, Geometrical Product Specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces
and measuring equipment — Part 2: Guide to the estimation of uncertainty of measurement in GPS measurement,
in calibration of measuring equipment and in product verification.
Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM). BIPM,IEC,IFCC, ISO, IUPAC,IUPAP,OIML,
1st edition, 1995.
International vocabulary of basic and general terms used in metrology (VIM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC,
IUPAP, OIML, 2nd edition, 1993.
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ISO 12179:2000(E)
3 Terms and definitions
For the purposes of this International Standard, the terms and definitions given in ISO 3274, ISO 4287,
ISO 14253-1, VIM [some of which are reproduced below (without their notes) for convenience], GUM, and term and
definition 3.2, apply.
3.1
calibration
set of operations that establish, under specified conditions, the relationship between values of quantities indicated
by a measuring instrument or measuring system, or values represented by a material measure or a reference
material, and the corresponding values realized by standards
[VIM 6.11]
3.2
task related calibration
set of operations which establish, under specified conditions, the relationship between values of quantities
indicated by a measuring instrument and the corresponding known values of a limited family of precisely defined
measurands which constitute a subset of the measuring capabilities of the measuring instrument
3.3
adjustment (of a measuring instrument)
operation of bringing a measuring instrument into a state of performance suitable for its use
[VIM 4.30]
3.4
(measurement) standard
etalon
material measure, measuring instrument, reference material or measuring system intended to define, realize,
conserve or reproduce a unit or one or more values of a quantity to serve as a reference
[VIM 6.1]
NOTE In ISO 5436:1985, "measurement standards" were referred to as "calibration specimens".
3.5
uncertainty of measurement
parameter, associated with the result of a measurement, that characterizes the dispersion of the values that could
reasonably be attributed to the measurand
[VIM 3.9]
3.6
traceability
property of the result of a measurement or the value of a standard whereby it can be related to stated references,
usually national or international standards, through an unbroken chain of comparisons all having stated
uncertainties
[VIM 6.10]
4 Conditions of use
4.1 Components and configurations of the contact (stylus) instrument
The contact (stylus) instrument is comprised of the basic equipment, a drive unit, a probe and a profile recorder
(see ISO 3274).
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ISO 12179:2000(E)
If the basic equipment is used with several drive units and probes, each of these instrumental combinations
(configurations) shall be calibrated separately.
4.2 Calibration of a configuration
The contact (stylus) instrument shall be calibrated when a change is made to the basic elements of the system
which intentionally or unintentionally modifies the measured profile/measuring result. Each configuration of the
contact (stylus) instrument shall be calibrated separately.
EXAMPLE With a change of probe the contact (stylus) instrument shall be calibrated.
4.3 Place of calibration
The contact (stylus) instrument should be calibrated at the place of use with environmental conditions similar to
those present when in use for measurement to take into account external influence factors.
EXAMPLE Noise, temperature, vibration, air movement, etc.
5 Measurement standards
The following measuring standards are applicable to the calibrations given in clause 6:
� optical flat;
� depth measurement standard (Figure 1): type A according to ISO 5436-1;
� spacing measurement standard (Figure 2): type C according to ISO 5436-1;
� inclined optical flat (Figure 3);
� profile co-ordinate measurement standard (consisting of a sphere or prism): type E according to ISO 5436-1;
� roughness measurement standard (Figure 4): type D according to ISO 5436-1.
NOTE It is recommended that a profile co-ordinate measurement standard be used on contact (stylus) instruments where
the stylus rotates plus and minus one half of a degree when moving through its full range.
6 Contact (stylus) instrument metrological characteristics
Only those task-related contact (stylus) instrument metrological characteristics which are relevant for the intended
measurements should be selected for calibration. For example, for the measurement of spacing parameters, the
vertical profile component need not be calibrated.
6.1 Residual profile calibration
The scratch-free optical flat reproduces the residual profile. For task-related calibrations use the appropriate profile
and parameters (for example: the roughness profile with Ra, Rq or Rt; the waviness profile with Wq or Wt).
NOTE By using this approach the effects of external guide straightness, environmental conditions and instrument noise
can be established.
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ISO 12179:2000(E)
Dimension in millimetres
Figure 1 — Example of a depth measurement standard (type A2)
Figure 2 — Example of a spacing measurement standard (type C)
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ISO 12179:2000(E)
Figure 3 — Example of an inclined optical flat and a measuring plan
Values in millimetres
Figure 4 — Example of a roughness measurement standard (type D) and measuring plan
6.2 Vertical profile component calibration
The depth measurement standard reproduces the profile depth in order to measure the error of indication of the
vertical profile component.
NOTE If no depth measurement standards are available gauge blocks may be used. Care must be taken concerning the
uncertainty of the height difference when using gauge blocks.
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6.3 Horizontal profile component calibration
The spacing measurement standard reproduces the mean width of profile element, PSm, in order to measure the
error of indication of the horizontal profile component.
6.4 Profile co-ordinate system calibration
The inclined optical flat reproduces:
� the least squares best fit angle in degrees;
� the total height of the primary profile, Pt, after removal of the least squares best fit straight line;
thus establishing the error of the linked horizontal and vertical co-ordinates (i.e. variation in traverse speed, non-
linearities in scales, etc.).
The profile co-ordinate measurement standard reproduces the total height of the primary profile, Pt,after removal of
the least squares best fit nominal form, thus establishing the co-ordinate system.
6.5 Calibration of the total contact (stylus) instrument
The roughness measurement standards reproduce the:
� arithmetical mean deviation, Ra;
� maximum height of profile Rz;
thus establishing an overall check of the total contact (stylus) instrument.
7 Calibration
7.1 Preparation for calibration
Before calibration, the contact (stylus) instrument shall be checked to determine if it operates correctly as described
in the manufacturer's operating instructions. The condition of the stylus tip shall also be checked according to the
manufacturer's instructions.
For contact (stylus) instruments the following shall be complied with.
� The residual profile is to be evaluated.
� The plane of the depth measurement standard shall be aligned to the reference surface in the best possible
way. All measurement standards shall be aligned properly, for example the plane of the roughness
measurement standard shall be aligned to within 10 % of the measuring gauge range but not more than 10 μm
over the evaluation length.
� In task related calibrations, roughness measurement standards shall be used with the appropriate roughness
comparable to the roughness of the surface to be measured.
� Measurements shall be taken in the middle of the vertical measuring range of the probe each time.
� A sufficient number of measurements shall be taken on each measurement standard for the required
measurement uncertainty, (see clause 8). Repeated measurements are usually necessary due to the
inhomogeneity of the measurement standard, the variability of the measurement procedure, and the
repeatability of the contact (stylus) instrument.
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ISO 12179:2000(E)
� The conditions used to measure the measurement standard shall be compatible with those used to calibrate
the measurement standard.
� The best fit procedure (i.e. least squares, minimum zone, etc.), used in the calibration of the measurement
standard, shall be used.
7.2 Evaluation of the residual profile
Traverse the optical flat. Determine the residual profile and calculate the surface texture parameters Pt and Pq.For
task-related calibration, calibrate in accordance with the measuring conditions for each required measurement. For
example, when measuring a roughness measurement standard, a cut-off wavelength �c = 0,8 mm and a cut-off
ratio of 300:1, making a total evaluation length of 4 mm, are used. The measured values of Ra and Rz shall be
indicated in the ca
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 12179
Première édition
2000-03-15
Spécification géométrique des produits
(GPS) — État de surface: Méthode du
profil — Étalonnage des instruments à
contact (palpeur)
Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact (stylus) instruments
Numéro de référence
ISO 12179:2000(F)
©
ISO 2000

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ISO 12179:2000(F)
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ISO 12179:2000(F)
Sommaire Page
Avant-propos.iv
Introduction.v
1 Domaine d’application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions.2
4 Conditions d'utilisation.3
5 Étalons de mesure.3
6 Caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) .3
7 Étalonnage.6
8 Incertitude de mesure .8
9 Certificat d'étalonnage des instruments à contact (palpeur).9
Annexe A (normative) Étalonnage des instruments mesurant les paramètres liés aux motifs.10
Annexe B (normative) Étalonnage d'instruments simplifiés pour la mesure d'état de surface .12
Annexe C (informative) Exemple: paramètre Ra d'un étalon de rugosité.13
Annexe D (informative) Relation avec la matrice GPS .16
Bibliographie .17
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ISO 12179:2000(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux de
normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec l'ISO participent également aux travaux. L'ISO collabore étroitement avec la Commission
électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les Normes internationales sont rédigées conformément aux règles données dans les Directives ISO/CEI, Partie 3.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis aux comités membres pour
vote. Leur publication comme Normes internationales requiert l'approbation de 75 % au moins des comités
membres votants.
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable de
ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence.
La Norme internationale ISO 12179 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et
vérification dimensionnelles et géométriques des produits.
Les annexes A et B constituent des éléments normatifs de la présente Norme internationale. Les annexes C et D
sont données uniquement à titre d’information.
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ISO 12179:2000(F)
Introduction
La présente Norme internationale est une norme traitant de la spécification géométrique des produits (GPS) et doit
être considérée comme une norme GPS générale (voir l'ISO/TR 14638). Elle influence le maillon 6 des chaînes de
normes sur la rugosité, l'ondulation et le profil primaire.
Pour de plus amples informations sur la relation de la présente Norme internationale avec les autres normes et la
matrice GPS, voir l'annexe D.
La présente Norme internationale concerne l'étalonnage des instruments à contact (palpeur) comme défini dans
l'ISO 3274. L'étalonnage est à effectuer avec des étalons de mesure.
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NORME INTERNATIONALE ISO 12179:2000(F)
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des instruments à contact
(palpeur)
1 Domaine d’application
La présente Norme internationale s’applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques des instruments à
contact (palpeur) destinés au mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 3274.
L'étalonnage est à effectuer avec des étalons de mesure.
L'annexe B s’applique à l'étalonnage des caractéristiques métrologiques d'instruments à contact (palpeur)
simplifiés qui ne sont pas en conformité avec l'ISO 3274.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui y est faite,
constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Pour les références datées, les
amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications ne s’appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes
aux accords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les
éditions les plus récentes des documents normatifs indiqués ci-après. Pour les références non datées, la dernière
édition du document normatif en référence s’applique. Les membres de l'ISO et de la CEI possèdent le registre des
Normes internationales en vigueur.
ISO 3274:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil —
Caractéristiques nominales des appareils à contact (palpeur).
ISO 4287:1997, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil — Termes,
définitions et paramètres d'état de surface.
ISO 5436-1:2000, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil; Étalons —
Partie 1: Mesures matérialisées.
ISO 10012-1:1992, Exigences d'assurance de la qualité des équipements de mesure — Partie 1: Confirmation
métrologique de l'équipement de mesure.
ISO 12085:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil —
Paramètres liés aux motifs.
ISO 14253-1:1998, Spécification géométrique des produits (GPS) — Vérification par la mesure des pièces et des
équipements de mesure — Partie 1: Règles de décision pour prouver la conformité ou la non-conformité à la
spécification.
ISO/TS 14253-2:1999, Spécification géométrique des produits (GPS) — Vérification par la mesure des pièces et
des équipements de mesure — Partie 2: Guide pour l’estimation de l’incertitude dans les mesures GPS, dans
l’étalonnage des équipements de mesure et dans la vérification des produits.
Guide pour l'expression de l'incertitude de mesure (GUM), BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML,
re
1 édition, 1995.
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ISO 12179:2000(F)
Vocabulaire international des termes fondamentaux et généraux de métrologie (VIM). BIPM, CEI, FICC, ISO,
e
OIML,UICPA,UIPPA, 2 édition, 1993.
3 Termes et définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale, les termes et définitions donnés dans l'ISO 3274, l'ISO 4287,
l'ISO 14253-1, le VIM [parmi lesquels certains termes et définitions ont été reproduits ci-après (sans leurs notes)
pour des raisons de commodité] et le GUM, ainsi que le terme et la définition 3.2, s'appliquent.
3.1
étalonnage
ensemble des opérations établissant, dans des conditions spécifiées, la relation entre les valeurs de la grandeur
indiquées par un appareil de mesure ou un système de mesure, ou les valeurs représentées par une mesure
matérialisée ou par un matériau de référence, et les valeurs correspondantes de la grandeur réalisées par des
étalons
[VIM 6.11]
3.2
étalonnage relatif à une tâche donnée
ensemble des opérations qui établit, dans des conditions spécifiées, la relation entre les valeurs des grandeurs
indiquées par un instrument de mesure et les valeurs correspondantes connues d'une famille limitée de
mesurandes définis de façon précise, qui constitue un sous-ensemble des aptitudes de mesure d'un instrument de
mesure
3.3
ajustage (d'un instrument de mesure)
opération destinée à amener un instrument de mesure à un état de fonctionnement convenant à son utilisation
[VIM 4.30]
3.4
étalon
mesure matérialisée, appareil de mesure, matériau de référence ou système de mesure destiné à définir, réaliser,
conserver ou reproduire une unité ou une ou plusieurs valeurs d’une grandeur pour servir de référence
[VIM 6.1]
NOTE Dans l’ISO 5436:1985, «étalon» était appelé «échantillon d'étalonnage».
3.5
incertitude de mesure
paramètre, associé au résultat d’un mesurage, qui caractérise la dispersion des valeurs qui pourraient
raisonnablement être attribuées au mesurande
[VIM 3.9]
3.6
traçabilité
propriétés du résultat d’un mesurage ou d’un étalon tel qui puisse être relié à des références déterminées,
généralement des étalons nationaux ou internationaux, par l’intermédiaire d’une chaîne ininterrompue de
comparaisons ayant toutes des incertitudes déterminées
[VIM 6.10]
2 © ISO 2000 – Tous droits réservés

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ISO 12179:2000(F)
4 Conditions d'utilisation
4.1 Composants et configurations d'un instrument à contact (palpeur)
Les instruments à contact (palpeur) comprennent l'équipement de base, une unité d'avance, un capteur et un
enregistreur de profil (voir ISO 3274).
Si l'équipement de base est utilisé avec plusieurs unités d'avance et capteurs, chacune des combinaisons
instrumentales (configurations) doit être étalonnée séparément.
4.2 Étalonnage d'une configuration
L'instrument à contact (palpeur) doit être étalonné à chaque modification des éléments de base du système, qui
modifie intentionnellement ou non le profil mesuré/résultat de mesure. Chaque configuration de l'instrument à
contact (palpeur) doit être étalonnée séparément.
EXEMPLE L'instrument doit être étalonné lors du changement de palpeur.
4.3 Lieu de l'étalonnage
Il est recommandé que l'instrument à contact (palpeur) soit étalonné sur son lieu d'utilisation, en présence de
conditions environnementales similaires à celles qui existeront lors des mesurages, pour tenir compte des facteurs
d'influence externes.
EXEMPLE Bruit, température, vibrations, courants d'air, etc.
5 Étalons de mesure
Les étalons suivants conviennent aux étalonnages indiqués à l’article 6:
� verre plan;
� étalon de profondeur (Figure 1): type A conformément à l'ISO 5436-1;
� étalon d’espacement (Figure 2): type C conformément à l'ISO 5436-1;
� verre plan incliné (Figure 3);
� étalon de coordonnées de profil (sphère ou prisme de précision): type E conformément à l'ISO 5436-1;
� étalon de rugosité (Figure 4): type D conformément à l'ISO 5436-1.
NOTE Il est recommandé d'utiliser un étalon de coordonnées de profil pour les instruments à contact (palpeur) où le
palpeur effectue une rotation de plus et moins un demi-degré lors du déplacement sur toute l'étendue.
6 Caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur)
Il convient de ne choisir pour l'étalonnage que les caractéristiques métrologiques de l'instrument relatives à la
tâche donnée, appropriées aux mesurages prévus. Par exemple, pour le mesurage de paramètres d'espacement, il
n'est pas nécessaire d'étalonner la composante verticale du profil.
6.1 Étalonnage du profil résiduel
Le verre plan exempt de rayures reproduit le profil résiduel. Pour des étalonnages relatifs à une tâche donnée,
utiliser les profils et paramètres appropriés (par exemple le profil de rugosité avec Ra, Rq ou Rt;le profil
d'ondulation avec Wq ou Wt).
NOTE Avec cette approche, il est possible d'établir l'influence de la rectitude de la référence externe, des conditions
d'environnement et du bruit de l'instrument.
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ISO 12179:2000(F)
Dimensions en millimètres
Figure 1 — Exemple d'étalon de profondeur (type A2)
Figure 2 — Exemple d'étalon d’espacement (type C)
4 © ISO 2000 – Tous droits réservés

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ISO 12179:2000(F)
Figure3— Exempledeverreplan incliné et deplan demesure
Valeurs en millimètres
Figure 4 — Exemple d'étalon de rugosité (type D) et de plan de mesure
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ISO 12179:2000(F)
6.2 Étalonnage de la composante verticale du profil
L'étalon de profondeur reproduit la profondeur du profil afin de mesurer l'erreur d'indication de la composante
verticale du profil.
NOTE En l'absence d'étalon de profondeur, il est possible d'utiliser des cales-étalons. Il convient de faire attention dans ce
cas à l'incertitude sur la différence de hauteur.
6.3 Étalonnage de la composante horizontale du profil
L'étalon d’espacement reproduit la largeur moyenne d'un élément de profil, PSm, afin de mesurer l'erreur
d'indication de la composante horizontale du profil.
6.4 Étalonnage du système de coordonnées du profil
Le verre plan incliné reproduit:
� l'angle des moindres carrés en degrés,
� la hauteur totale du profil primaire, Pt, après retrait de la droite des moindres carrés;
établissant ainsi l'erreur sur les coordonnées horizontale et verticale ensemble (c'est-à-dire variation de la vitesse
de déplacement, non-linéarités des échelles, etc.).
L'étalon de coordonnées du profil reproduit la hauteur totale du profil primaire, Pt, après retrait de la forme
nominale des moindres carrés, établissant ainsi le système de coordonnées.
6.5 Étalonnage de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble
L'étalon de rugosité reproduit:
� l'écart moyen arithmétique, Ra,
� la hauteur maximale du profil, Rz;
établissant ainsi une vérification globale de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble.
7 Étalonnage
7.1 Préparation de l'étalonnage
Avant étalonnage, l'instrument à contact (palpeur) doit être vérifié pour s'assurer qu'il fonctionne correctement
conformément à la notice d'instructions du fabricant. L'état de la pointe du palpeur doit aussi être vérifié
conformément aux instructions du fabricant.
Pour les instruments à contact (palpeur), il faut se conformer à ce qui suit:
� le profil résiduel doit être évalué;
� le plan de l'étalon de profondeur doit être dégauchi au mieux par rapport à la surface de référence. Tous les
étalons doivent être correctement dégauchis, par exemple le plan de l'étalon de rugosité doit être dégauchi à
10 % près de l'étendue de mesure de l'étalon, sans dépasser 10 μm sur la longueur d'évaluation;
� pour les étalonnages relatifs à une tâche donnée, il faut utiliser des étalons de rugosité avec une rugosité
appropriée, comparable à celle des surfaces à mesurer;
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ISO 12179:2000(F)
� à chaque fois, la mesure doit être prise au milieu de l'étendue de mesure verticale du capteur;
� un nombre suffisant de mesurages doit être effectué sur chaque étalon en fonction de l'incertitude de mesure
requise (voir article 8). Des mesures répétées sont habituellement nécessaires du fait du manque
d'homogénéité de l'étalon, des variations possibles de la procédure de mesure, et de la fidélité des
instruments à contact (palpeur);
� les conditions utilisées pour mesurer l'étalon doivent être compatibles avec celles utilisées pour étalonner cet
étalon;
� la procédure du meilleur ajustement (c'est-à-dire moindres carrés, zone minimale, etc.), utilisée pour
l'étalonnage de l'étalon, doit être utilisée.
7.2 Évaluation du profil résiduel
Palper le verre plan. Déterminer le profil résiduel et calculer les paramètres d'état de surface Pt et Pq. Pour les
étalonnages relatifs
...