SIST EN 61726:2016

Oznaka standarda: SIST EN 61726:2016
Koda projekta: 24627
Organizacija: SIST
Naslov (angleški): Cable assemblies, cables, connectors and passive microwave components - Screening attenuation measurement by the reverberation chamber method (IEC 61726:2015)
Naslov (slovenski): Kabelski sestavi, kabli, konektorji in pasivne mikrovalovne komponente - Meritve zaslonskega slabljenja z metodo odmevne komore (IEC 61726:2015)
Če kupite standardizacijski dokument v .pdf formatu prek spletne prodaje, vam nudimo 10% popust pri spodnji ceni brez DDV. Cenik SIST
Dokumenti
Ime Jezik Status Cena Dodaj v košarico
SIST EN 61726:2016 angleški jezik Active SIST-E: 58.08 EUR
PDF
Papir
Tehnični odbor: MOC - Mobilne komunikacije
ICS: 33.120.10 33.120.30
Status: Objavljen
Objavljen: 01-Apr-2016
Refer. št. objave: Sporocila 2016-04
Referenčna oznaka: EN 61726:2015
Področje projekta (angleško): The requirements of modern electronic equipment have indicated a demand for a method for testing screening attenuation of microwave components over their whole frequency range. Convenient test methods exist for low frequencies and components of regular shape. These test methods are described in the relevant IEC product specifications (e.g. IEC 62153-4-3). For higher frequencies and for components of irregular shape, a new test method has become necessary and such a test method is described in this International Standard. This International Standard describes the measurement of screening attenuation by the reverberation chamber test method, sometimes named mode stirred chamber, suitable for virtually any type of microwave component and having no theoretical upper frequency limit. It is only limited toward low frequencies due to the size of the test equipment, which is frequencydependent and is only one of several methods of measuring screening attenuation. For the purpose of this standard, examples of microwave components are waveguides, phase shifters, diplexers/multiplexers, power dividers/combiners etc.
Področje projekta (slovensko): Zahteve sodobne elektronske opreme nakazujejo potrebe po metodi za preskušanje zaslonskega slabljenja mikrovalovnih komponent za celotno frekvenčno območje. Obstajajo priročne metode za preskušanje nizkih frekvenc in komponent pravilne oblike. Te preskusne metode so opisane v ustreznih specifikacijah standarda IEC za izdelek (npr. standard IEC 62153-4-3). Višje frekvence in komponente nepravilne oblike zahtevajo novo preskusno metodo, ki je opisana v tem mednarodnem standardu. Ta mednarodni standard opisuje meritve zaslonskega slabljenja s preskusno metodo odmevne komore ali mešalne komore, kot je včasih imenovana, ki je primerna za skorajda vsako vrsto mikrovalovnih komponent in nima teoretične zgornje mejne vrednosti frekvence. Zaradi velikosti preskusne opreme, ki je odvisna od frekvence, je omejena le na nizke frekvence in je le ena od številnih metod meritve zaslonskega slabljenja. V tem mednarodnem standardu so primeri mikrovalovnih komponent valovodi, preklopniki napetosti, diplekserji/multiplekserji, delilniki/združevalniki virov napajanja itd.
Povezava na standarde
Povezava Ime Datum
Nadomešča SIST EN 61726:2004 - Cable assemblies, cables, connectors and passive microwave components - Screening attenuation measurement by the reverberation chamber method (IEC 61726:1999) 07-Jun-2022
Revidiran SIST EN 61726:2004 - Cable assemblies, cables, connectors and passive microwave components - Screening attenuation measurement by the reverberation chamber method (IEC 61726:1999) 17-May-2013
Revidiran oSIST prEN IEC 61726:2022 - Kabelski sestavi, kabli, konektorji in pasivne mikrovalovne komponente - Meritve zaslonskega slabljenja z metodo odmevne komore 26-Jul-2021


• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AC so popravki standardov in so v večini primerov brezplačni.

• Slovenski standardi SIST s cenovnim razredom AP so privzeti tuji standardi, katerih sestavni del je izvirni standard, ki ga moramo pridobiti pri izdajatelju v tujini. Naročilo pošljite na: prodaja@sist.si.

Najbolje prodajani standardi